絕緣電阻測(cè)試儀的3種絕緣測(cè)試方法

 絕緣電阻測(cè)試儀（也稱為數(shù)字絕緣電阻表）用于測(cè)量電線絕緣的電阻，完整性和安全性。由于電絕緣層破裂，可能會(huì)發(fā)生許多危險(xiǎn)。電擊和人員傷害，系統(tǒng)故障以及機(jī)械故障，火災(zāi)隱患以及必定的停機(jī)時(shí)間成為主要問題。

建議將絕緣測(cè)試作為常規(guī)的年度或半年度維護(hù)計(jì)劃的一部分。如果啟動(dòng)程序并發(fā)現(xiàn)絕緣變質(zhì)和布線危險(xiǎn)，則可以安排維護(hù)和維修時(shí)間。絕緣故障和劣化是由許多因素引起的。其中一些包括過熱或過冷，機(jī)械損壞，濕氣，污垢，腐蝕性蒸汽，振動(dòng)，老化以及接線中斷或斷裂。

絕緣電阻測(cè)試儀的3種主要的絕緣測(cè)試方法

絕緣測(cè)試有多種*的測(cè)試方法。考慮絕緣電阻時(shí)，主要執(zhí)行三種不同的測(cè)試。它們用于電動(dòng)機(jī)，變壓器和發(fā)電機(jī)，但也可以用于電線和電纜。請(qǐng)注意，所有絕緣測(cè)試僅應(yīng)在斷電的電路上執(zhí)行。

1.現(xiàn)場(chǎng)閱讀測(cè)試

點(diǎn)讀測(cè)試是在相同時(shí)間間隔內(nèi)以固定電壓進(jìn)行的一次絕緣測(cè)試，通常是按照常規(guī)維護(hù)計(jì)劃進(jìn)行的。每次測(cè)試的時(shí)間間隔通常不少于60秒。每年都會(huì)進(jìn)行許多現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試，但可能會(huì)更頻繁地進(jìn)行。所有測(cè)試必須在相同的現(xiàn)有條件下進(jìn)行，以便溫度和濕度應(yīng)與之前的測(cè)試盡可能接近。這些測(cè)試的時(shí)間根據(jù)個(gè)人要求而定，但應(yīng)始終在每年大約同一時(shí)間使用相同的電壓。繪制這些結(jié)果以顯示每個(gè)測(cè)試產(chǎn)品隨時(shí)間的“歷史”。請(qǐng)參見下面的圖1，其中顯示了“點(diǎn)讀測(cè)試”的6年表格，其中顯示了幾年內(nèi)產(chǎn)品的故障和劣化。

2.時(shí)間電阻測(cè)試

此測(cè)試在兩個(gè)時(shí)間段內(nèi)施加選定的電壓。di一階段通常為10分鐘，第二階段為1分鐘。如果設(shè)備絕緣良好，絕緣電阻會(huì)隨時(shí)間增加。如果絕緣損壞或絕緣的完整性包含水分，油或其他污染物，則電阻值將保持水平或降低。請(qǐng)注意下面的圖2，該圖表明產(chǎn)品D是可以接受的，而產(chǎn)品E可能是有問題的。進(jìn)行時(shí)間測(cè)試時(shí)，請(qǐng)注意以下幾點(diǎn)：

介電吸收（DAR）= 1分鐘測(cè)試電阻/ 30秒測(cè)試電阻

介電吸收率DAR-（也稱為“吸收率”）表示絕緣良好。用作經(jīng)驗(yàn)參考

的DAR值（尤其是對(duì)于電動(dòng)機(jī)和繞組）為：如果DAR值小于1.0，則被測(cè)單元可能已發(fā)生故障。

如果DAR值在1.0到1.25之間，則該單位存在問題。

如果DAR值在1.4到1.6之間，則該單位很好。

如果DAR值大于1.6，則該單位非常好。

3.步進(jìn)電壓

該測(cè)試包括在固定的時(shí)間間隔內(nèi)施加兩個(gè)或多個(gè)測(cè)試電壓。電壓的增加會(huì)在可能的絕緣泄漏路徑上增加應(yīng)力水平。此過程可能會(huì)發(fā)現(xiàn)絕緣方面的問題，否則產(chǎn)品可能會(huì)通過點(diǎn)測(cè)或時(shí)間測(cè)試通過OK的測(cè)試。請(qǐng)注意，下面的圖三說(shuō)明500V的測(cè)試與2500V的測(cè)試結(jié)果不同。許多技術(shù)人員選擇5種不同的電壓，但是每次測(cè)試必須在相同的時(shí)間間隔內(nèi)進(jìn)行。通常將間隔設(shè)置為1分鐘，并且每分鐘的范圍從1分鐘到10分鐘。請(qǐng)注意，上面的圖2顯示了10分鐘的測(cè)試，表明產(chǎn)品D很好，但產(chǎn)品E有問題，可能包含損壞。應(yīng)用階躍電壓測(cè)試時(shí)，結(jié)果的標(biāo)準(zhǔn)解釋稱為極化指數(shù)，表示為：

極化指數(shù)（PI）= 10分鐘測(cè)試電阻/ 1分鐘測(cè)試電阻。極化指數(shù)是10分鐘絕緣電阻測(cè)試與1分鐘絕緣電阻測(cè)試的比值。結(jié)果將表明是否發(fā)生絕緣劣化。這是一個(gè)很好的測(cè)試，尤其是對(duì)于電機(jī)繞組。基于類別的旋轉(zhuǎn)機(jī)械小值的IEEE標(biāo)準(zhǔn)是：

*= 1.5

B級(jí)= 2.0

C級(jí)= 2.0